Open Procedure Above The Community Threshold For The Award Of The Supply, Installation And Operational Performance Of Systems For The Determination Of The Electrical And Thermal Properties Of Materials And Devices For Microelectronics Divided Into 2 Lots _Lot 1 System For Ult. Impulse Current Measurements Ra-Fast High Voltage_ Lot 2 System For Thermal Measurements In Microelectronic Devices With High Spatial And Temporal Resolution
Teklif Çağrısı
Sizlere güncel ve doğru bilgileri sunmak ilkemizdir. Ancak bilgilerin sıfır hata ile yayınlandığını garanti edemeyiz.
Bu ilana özel güncelleme, düzeltme veya önerileriniz için lütfen ilgili alıcıyla direkt temasa geçiniz.