Precise Ion Beam Based Trenching Tool (Imws-03.2) + High Performance Ga-Fib Sample Preparation (Imws-08.1) + High Performance Analyical Sem Inspection (Imws-08.2) (Pr924050-2690-P)
Teklif Çağrısı
Sizlere güncel ve doğru bilgileri sunmak ilkemizdir. Ancak bilgilerin sıfır hata ile yayınlandığını garanti edemeyiz.
Bu ilana özel güncelleme, düzeltme veya önerileriniz için lütfen ilgili alıcıyla direkt temasa geçiniz.